GIV-20A系列

GIV-20A系列太阳电池组件测试仪为直射光结构,模拟真实太阳光照射条件,可根据现场环境实现侧打光/上打光安装模式,A+A+A+级光源配置;满足300-1200nm全光谱,脉冲宽度10ms至100ms可调。

测试对象:适用于普通太阳晶硅组件(PERC、N型、IBC以及HIT等)电性能参数的测试,同时兼容MBB、半片、叠片等组件的测试。


主要技术参数


型号 XJCM-20A系列
最大可测组件尺寸 2600mm X 1600mm
幅照度范围 700-1200W/㎡
光谱范围 300nm-1200nm
光谱匹配du 0.875-1. 125(A+级)
幅照度不稳定性 <1% A+级 
幅照度不均匀性 <1% A+级 
测量范围 电压:1V/10V/50V/100V/200V
电流:0.25A/1A/5A/12.5A/20A
工作电源 200-240V ,10A, 50/60HZ,single phase(单相)